矿石XRD检测 矿石是由什么组成检测
每一种矿物的晶体都具有特定的X射线衍射谱图,图谱中的特征峰强度与样品中该矿物的含量相关,从而得到定性定量结果。
X射线衍射分析(X-ray diffraction,简称XRD),是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
仪器技术参数
小角衍射最小角可以达到0.4度,主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射:较低角度可以达到5度,可以准确接收到小于10度的衍射峰。
(1)测量精度:角度重现性±0.0001°;测角仪半径≥200mm,测角圆直径可连续变
(2)最小步长0.0001°;角度范围(2θ):-110~168°;温度范围:室温~900℃;
(3)较大输出:3KW;稳定性:±0.01%;管电压:20~60kV(1kV/1step);管电流:10~60mA。
送样要求
固体粉末:均匀干燥,粒度小于70um(过200目),质量不少于100 mg;
块体、金属及薄膜样品:需加工出一平整的表面,尺寸约为20mm×10mm×2mm
应用领域
物相分析,可以对物质的组成及物相进行表征分析.
定性、定量分析,通过精修可对物质的各组分进行准确的定量分析。
高温原位分析,通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响。
常见适用标准
通用标准和非通用标准都适用。
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